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Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測厚儀

描述：Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測厚儀
這是一種光譜膜厚監(jiān)測監(jiān)測器，用于監(jiān)測單色光氣相沉積過程中基板光強(qiáng)度的變化。此外，還用于本公司的氣相沉積設(shè)備，作為氣相沉積部件制造商，在充滿專業(yè)知識(shí)的膜厚監(jiān)測設(shè)備中完成。

產(chǎn)品型號(hào)：OMD-1000
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2025-12-28
訪問量：807

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產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標(biāo)題：Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測厚儀

產(chǎn)品概述

品牌	Asahi Spectra/日本	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
是否可提供報(bào)關(guān)單	是	貨期	備庫銷售，現(xiàn)貨
可售賣地	全國

Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測厚儀 OMD-1000

什么是OMD-1000？

這是一種光譜膜厚監(jiān)測監(jiān)測器，用于監(jiān)測單色光氣相沉積過程中基板光強(qiáng)度的變化。此外，還用于本公司的氣相沉積設(shè)備，作為氣相沉積部件制造商，在充滿專業(yè)知識(shí)的膜厚監(jiān)測設(shè)備中完成。

小葉

總結(jié)

增強(qiáng)的波長范圍

傳統(tǒng)型號(hào)具有濾光片式波長選擇，但新產(chǎn)品采用了我們久經(jīng)考驗(yàn)的光譜儀，現(xiàn)在可以選擇任何波長。
薄膜厚度變化的信號(hào)從電壓輸出變?yōu)榕c個(gè)人計(jì)算機(jī)兼容的數(shù)字輸出，控制機(jī)構(gòu)由個(gè)人計(jì)算機(jī)的命令控制，而不是手動(dòng)操作。此外，通過I/F直接控制與個(gè)人電腦相連的膜厚儀本體，沒有像其他制造商那樣的控制器，是一個(gè)非常緊湊的系統(tǒng)。

長處

集成光譜儀的緊湊型設(shè)計(jì)
提高抗噪性，實(shí)現(xiàn)可靠的膜厚監(jiān)測（靜電放電試驗(yàn)?zāi)蛪?plusmn;5kV）
可通過 PC 命令自動(dòng)控制
控制器內(nèi)置于接收器本體中，實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比。

主機(jī)配置和接線

Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測厚儀

產(chǎn)品詳情

它連接到氣相沉積設(shè)備上，并監(jiān)控膜厚。
它可以如右圖所示安裝。

反射式監(jiān)測

透射式監(jiān)控
（泛光燈彎曲）

透射式監(jiān)控
（直接連接到泛光燈）

產(chǎn)品組成

受光器

泛光燈

電源箱

散裝法蘭
* 包含在反光鏡盒中

反光鏡盒

透射鏡盒

產(chǎn)品規(guī)格

型式	OMD-1000型
光譜儀類型	車爾尼-特納單色
波長范圍	保修范圍：380~900nm工作范圍：350~1100nm
波長分辨率	狹縫 0.5mm：4.2nm [546nm] 狹縫 1.0mm：8.3nm [546nm]
波長精度	±1.0納米
最小波長饋電	0.1納米
外部控制	RS232C接口
外部輸出端子	DC0~2V （滿量程）
采樣間隔	100ms以上
靜電放電試驗(yàn)?zāi)蛪?/td>	±5 kV（實(shí)際 8 kV）
光源	12V100W鹵素?zé)?/td>
光量安定性	±0.1%/h 以下
輸入電壓	AC100V 50/60赫茲
允許輸入電壓	交流85~132V
視在功率	340VA以下
使用環(huán)境	溫度 10～35℃ 濕度 20～80％

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Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測厚儀

Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測厚儀 OMD-1000

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